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簡(jiǎn)要描述：單分子檢測(cè)(SMD)及其分析是一個(gè)考察細(xì)胞系統(tǒng)內(nèi)動(dòng)力學(xué)變化以及物質(zhì)相互作用的精妙方法。新的Leica TCS單分子檢測(cè)系列產(chǎn)品將TCS SP8共聚焦顯微鏡與來(lái)自PicoQuant的MD專業(yè)軟件和硬件*地整合在了一個(gè)系統(tǒng)中.
產(chǎn)品型號(hào)： TSC 徠卡
所屬分類：顯微鏡大全
更新時(shí)間：2024-03-19
共聚焦顯微鏡
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| 由一個(gè)*整合的系統(tǒng)控制全部的實(shí)驗(yàn) 通過(guò)系統(tǒng)各個(gè)部分的*整合，用戶可以通過(guò)一個(gè)界面控制全部的實(shí)驗(yàn)。專門的應(yīng)用向?qū)Э焖俸头奖愕靥峁┛芍貜?fù)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。高度的自動(dòng)化，提供了新的記錄策略。在線SMD數(shù)據(jù)顯示和交互反饋，保證了數(shù)據(jù)質(zhì)量的嚴(yán)密控制。 | 即時(shí)的光譜和壽命信息－結(jié)合了更強(qiáng)大的能力 結(jié)合SP8X與光譜FLIM檢測(cè)，構(gòu)成了可調(diào)節(jié)的，無(wú)光學(xué)濾片的FLIM系統(tǒng)。通過(guò)可調(diào)節(jié)激發(fā)光和優(yōu)化光譜范圍檢測(cè)，可以得到zui高質(zhì)量的FLIM數(shù)據(jù)。利用方便的SMD FLIM向?qū)?，可以自?dòng)獲得FLIM激發(fā)和檢測(cè)堆。這對(duì)于分離多色樣品的熒光分離以及新染料的特征描述是非常有用的。 |
| 快速的結(jié)果 － 更好的數(shù)據(jù)可靠性 在線顯示重要的統(tǒng)計(jì)控制參數(shù)，如相關(guān)曲線、快速FLIM圖像、計(jì)數(shù)率、分子亮度或zui大分子計(jì)數(shù)數(shù)量，能在運(yùn)行FCS或FLIM實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，連續(xù)評(píng)估數(shù)據(jù)質(zhì)量。SMD數(shù)據(jù)可以在測(cè)量系列過(guò)程中就得到解釋。 | 在SMD檢測(cè)中具有zui大靈活性 由于通用的SMD原始數(shù)據(jù)格式，同一個(gè)數(shù)據(jù)文件可以有不同的分析方法。根據(jù)硬件和實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)，相關(guān)和壽命信息可以從一個(gè)單獨(dú)的測(cè)量中提取出來(lái)，得到有關(guān)樣品的zui大信息。FCS系統(tǒng)可以升級(jí)配備FLIM，反之也可以，可以達(dá)到zui大靈活的的FLCS配置。 |
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